Description du projet
JRP Identifiant: 23IND14
JRP Titre: Diffusion optique multi-dimensionnelle pour la mesure de l’apparence
Date de début: Juin 1, 2024
Durée : 36 mois
Organisation de Coordination: CNAM, France
JRP Coordinateur: Gaël Obein
Travail planifié et objectifs
L’objectif principal du projet est de proposer des outils adaptés aux besoins des industriels pour capturer, reproduire et monitorer l’apparence visuelle d’objets réels ou virtuels.
Les objectifs spécifiques du projet sont:
- De développer et caractériser des goniospectrophotomètres imageurs ainsi que des instruments plus simples dédiés à la mesure de l’apparence ; d’utiliser ces instruments pour réaliser des mesures traçables de propriétés optiques (e.g., BRDF, BTDF, BSSRDF) de surfaces manufacturées réelles, comme des surfaces anisotropes, non planes, fonctionnelles et des matériaux translucides, avec l’objectif d’atteindre des incertitudes de mesure inférieures à 0.5% pour la BRDF et la BTDF, et 2% pour la BSSRDF, pour les goniospectrophotomètres complets. Pour les instruments simplifiés, les objectifs d’incertitude sont de l’ordre de 2% et 4% pour la BDRF/BTDF et la BSSRDF respectivement.
- De modéliser les propriétés complexes de diffusion (e.g., BRDF, BTDF, BSSRDF) de surfaces industrielles pour définir des outils de quantification pour la digitalisation et la reproduction de l’apparence des matériaux, en incluant des stratégies de seuillage, d’échantillonnage, des modèles d’interpolation et des métriques de comparaison.
- De développer des échelles de mesure perceptuelle de la translucidité et du mat. Cela inclut la définition de quantités physiques (e.g., BRDF and BSSRDF) qui corrèlent avec la sensation visuelle, et la proposition de protocoles permettant de les mesurer avec une incertitude souhaitée inférieure à 5%.
- D’adresser des problèmes métrologiques du domaine de la spectrophotométrie bidirectionnelle, qui limitent les incertitudes de mesure de quantités spectrophotométriques comme les quantités basées sur des mesures avec sphère, le facteur de transmission d’échantillon épais, la traçabilité multi-échelle, l’indice de réfraction effectif, et l’indice de gloss spéculaire.
- De faciliter l’adoption des technologies et infrastructures de mesure développées dans le cadre du projet par le réseau européen de métrologie (EMN) pour la fabrication avancée, la chaîne d’approvisionnement en métrologie (instituts nationaux de métrologie et fabricants d’instruments), les organismes d’élaboration de normes (ISO, CIE) et les utilisateurs finaux (par exemple, l’industrie automobile, les développeurs de jeux vidéo, le secteur de la santé, le secteur des arts visuels et les fabricants de verre).